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研究所赴上海调研技术检测统计系统开发
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时间:2012-04-18   作者:认证认可技术研究所  来源:认证认可技术研究所  
 

研究所赴上海调研技术检测统计系统开发

    4月10日,研究所随国家认监委谢军副主任、实验室与检测监管部肖良主任,赴上海市质监局调研“上海市技术检测统计系统开发应用情况”,听取了上海市质监局季晓烨副局长的汇报,为“全国技术检测统计系统”研究开发提供了思路。




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